晶振老化座3.2 x 2.5 晶振翻蓋探針測試座

產品簡介

1. 產品用途 : 老化座、測試座，對5032（5.0*3.2）的IC進行高低溫老化測試。
2. 採用雙觸點技術，接觸更穩定、體積小。
3. 採用特殊工程塑膠，強度高、壽命長、阻抗小、彈性好。
4. 鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結構20000次）(1)型號: 5032 (2) Pin腳 : 4 Pin (3)Body Size: 5.0 x 3.2

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晶振探針測試座5.0 x 3.2 -2PIN晶振翻蓋探針老化座

產品簡介

1. 產品用途 : 老化座、測試座，對5032 (5.0 x 3.2) 的IC進行高低溫老化測試
2. 採用雙觸點技術，接觸更穩定、體積小。
3. 採用特殊的工程塑膠，強度高、壽命長、阻抗小、彈性好
4. 鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命(翻蓋結構20000次)      (1)型號 : 5032 (2)Pin腳 : 2 Pin (3)Body Size : 5.0 x 3.2

多款規格：